采用背压法检漏时，首先将被检产品置于高压的---气室中，浸泡数小时或数天，如果被检产品表面有漏孔，油箱---检漏厂家，---气便通过漏孔压入被检产品内部密封腔中，使内部密封腔中---分压力上升。然后取出被检产品，将表面的残余---气吹除后再将被检产品放入与检漏仪相连的真空容器内，---检漏厂家，被检产品内部密封腔内的---气会通过漏孔泄漏到真空容器，再进入---质谱检漏仪，从而实现被检产品总漏率测量。检漏仪给出的漏率值为测量漏率，需要通过换算公式计算出被检产品的等效标准漏率。
背压法的优点是检测灵敏度高，能实现小型密封容器产品的泄漏检测，可以进行批量化检测。
背压法的缺点是不能进行大型密封容器的漏，否则由于密封腔体容积太大，导致加压时间太长。此外，半导体---检漏厂家，每个测量漏率都对应两个等效标准漏率，避雷器---检漏厂家，在细检完成后还需要采用其它方法进行粗检，排除大漏的可能。
背压法的检漏标准主要有qj3212-2005<---质谱背压检漏方法>、gjb360a-1996<电子及电气元件试验方法方法112 密封试验>，主要应用于各种电子元器件产品检漏。
检漏气体测试的漏孔通常非常微小或者是狭长的毛细管，如果在检漏气体测试前将漏孔置于水槽中，这些漏孔或者毛细管则将被水堵塞或充满，而堵在漏孔中的水因为表面张力的原因，会非常不易从小孔中驱逐，从而---影响检漏结果。解决这一问题的办法，只能通过漫长的干燥过程来排除这些水分。
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压---法检漏是将压有一定压力的示踪气体的被检件放入检漏夹具中，然后连至检漏仪将其抽空，示踪气体通过漏孔泄漏出来，经检漏仪检测总泄漏量。
一般小型电子器件宜采用这种检漏方法。首先将仪器调整好，再将器件放入加压罐内压入---气，---气进入有漏孔的器件内部，无漏孔的器件只是表面吸咐---气。器件加压压力和时间根据gb2423，2328文件而定，器件从加压罐中取出后将表面吸咐的---气吹掉再放入检漏夹具中抽空，待真空抽至设定值后自动将夹具连至仪器的测量系统。这时压入存在漏孔器件内部的---气泄漏出来被检测，其漏率在漏率表上显示出来。
一般压---法检漏时采用排除法。在夹具中放一定数量的器件，这一批的总漏率没超过报废预定值，说明这一批合格；总漏率超过报废预定值可以取出一半，剩下的一半继续检漏，这一半合格说明有漏的器件在取出的那一半中，依此检漏直至检出有漏孔的器件。
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